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該儀器用于測(cè)試薄膜材料熱物性參數(shù)。薄膜物理指出當(dāng)物體很薄時(shí),同樣材料薄膜狀態(tài)的物性與容積狀態(tài)的物性不定相同,因此對(duì)薄膜物性的測(cè)量必須在薄膜狀態(tài)下進(jìn)行。根據(jù)物體表面溫度按余弦(或正弦)規(guī)律變化時(shí)的瞬態(tài)實(shí)驗(yàn)?zāi)P?。采用溫度波法?lái)測(cè)試薄膜材料的熱物性參數(shù),由于薄膜是有限厚的維模型。在這狀態(tài)下,當(dāng)溫度振蕩頻率達(dá)到定值后,利用樣品上、下表面溫度的相位差計(jì)算導(dǎo)溫系數(shù)或?qū)嵯禂?shù)。儀器于研究薄膜材料
產(chǎn)品型號(hào):HCX09A
更新時(shí)間:2024-08-21